ZSX Primus III NEXT 用于工業應用的掃描型波長色散 X 射線熒光光譜儀 固體樣品的元素分析 理學 ZSX Primus III 通過定量測定粉末和固體樣品中從 O到 Cm 的廣泛范圍元素，提供快速的元素工業質量控制。 這款掃描波長色散 X 射線熒光光譜儀采用理學獨特的 X 射線管上方配置，建立在成功的 ZSX Primus 系列平臺之上。二手WDX波長色散X熒光光譜儀

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